波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀集波譜、能譜、微X射線分析于一身，集成了波譜和能譜的優點，擴展了X射線熒光光譜儀的分析領域，搭建了從厘米級總體分析到毫米級分布分析的橋梁。

 2017年3月5~9日，第68屆匹茲堡國際實驗室儀器展覽會在美國芝加哥展覽中心舉行。
  地調局實驗測試中心、北京鋼研納克檢測技術有限公司、地調局南京地調中心等共同自主研發的 CNX-808WE 波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀驚艷亮相，受到眾多專家學者的關注。
  該儀器集波譜、能譜、微X射線分析于一身，集成了波譜和能譜的優點，擴展了X射線熒光光譜儀的分析領域，搭建了從厘米級總體分析到毫米級分布分析的橋梁。許多參加展會的客商，對CNX-808WE 波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀表示了極大的興趣，并現場進行了詳細咨詢。

 通過這次參展，不僅了解到了儀器行業的最新行情，開拓了國際視野，為今后的儀器研發工作帶來了新的理念，更有助于該項成果的市場化。

 編輯點評

  地調局實驗測試中心、北京鋼研納克檢測技術有限公司、地調局南京地調中心等共同自主研發的 CNX-808WE 波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀為我國熒光光譜領域注入新鮮血液，再一次提高了我國國產儀器自主研發創新能力。