電學(xué)性能測試
作者：宋工 來源：原創(chuàng) 2024-01-31 瀏覽量：104
字號：T | T
電學(xué)性能測試
微型探針臺是一種可以在不同溫度下對材料進行電學(xué)性能測試的設(shè)備，它有多種類型和應(yīng)用，主要用于科學(xué)研究和教育實驗。微型探針臺的工作原理是通過探針與樣品接觸，形成電路，然后通過電學(xué)儀表測量樣品的電阻、電容、電流、電壓等參數(shù)，從而分析材料的特性。微型探針臺可以測試不同尺寸和形狀的樣品，例如晶圓、芯片、封裝器件、光電器件、材料片等。微型探針臺是一種高精度、高效率、高靈活性的測試設(shè)備，對于推動材料科學(xué)和半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展有重要作用。
優(yōu)點：
體積小，便于搬運和安裝。
精度高，能夠?qū)ξ⒚准壍臉悠愤M行精確的測試。
操作方便，只需通過探針與樣品接觸，即可進行電學(xué)性能測試。
靈活性高，能夠適應(yīng)不同的測試環(huán)境和測試需求，例如高低溫、高頻、光電等。