一、概率趨勢(shì)診斷

概率趨勢(shì)診斷方法是通過(guò)異常現(xiàn)象對(duì)應(yīng)的關(guān)鍵參數(shù)集，根據(jù)歷史數(shù)據(jù)建立各參數(shù)變化與故障損傷的概率軌跡，再結(jié)合當(dāng)前多參數(shù)概率狀態(tài)空間進(jìn)行比較，來(lái)判斷當(dāng)前健康狀態(tài)判斷和分析趨勢(shì)。通過(guò)當(dāng)前參數(shù)概率空間與已知損傷狀態(tài)概率空間的干涉來(lái)進(jìn)行定量的損傷判定，便可直觀的檢查出（微機(jī)）繼電保護(hù)測(cè)試儀的關(guān)鍵問(wèn)題所在。

二、基子診斷分析

基子診斷分析是利用建立被觀測(cè)對(duì)象動(dòng)態(tài)響應(yīng)方式，根據(jù)當(dāng)前系統(tǒng)的響應(yīng)輸出，來(lái)辨識(shí)參數(shù)，對(duì)照正常狀態(tài)下的參數(shù)統(tǒng)計(jì)特性，進(jìn)行故障模式確認(rèn)微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀是否良好。這種方法提供了一種不同于概率趨勢(shì)分析、通過(guò)這種途徑，便可快速達(dá)到報(bào)警效果。

三、綜合型診斷

這種診斷方法利用來(lái)自多種信息源的參數(shù)、傳感器信息，以及歷史與經(jīng)驗(yàn)信息的相互結(jié)合來(lái)分析微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀自檢，以減小工作中的差錯(cuò)，更可以有效提高精.確度，是數(shù)據(jù)融合的最.佳之選。