晶圓級微電子材料器件電性能測試系統的簡單介紹

晶圓級微電子材料器件電性能測試系統的詳細信息

在半導體材料和器件的研究中，電性能測試是必不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導體技術的提升，微電子工藝逐漸復雜，如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業(yè)內關注的重點。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產化數字源表SMU，為進一步打通測試融合壁壘，打造閉環(huán)解決方案，通過對半導體高端測試裝備上下游產業(yè)鏈的垂直整合，晶圓級微電子材料器件測試系統應運而生!
普賽斯數字源表SMU是整個測試系統的核心部分，用戶可以根據材料器件不同的電流、電壓，配置不同規(guī)格參數的源表和探針臺。

更高效:靈活測試：

體積小巧，節(jié)省實驗臺空間
接線簡單，無需繁雜的同步觸發(fā)操作
適應多種測量模式，如四探針、三同軸等

更可靠:廣泛應用：
利用普賽斯這套國產化高精度數字源表+探針臺的測試系統，可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測試。更多有關晶圓級微電子材料器件電性能測試系統詳情找普賽斯儀表專員為您解答

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