NETZSCH LFA 457 MicroFlash^® 代表了當代激光閃射測量技術(shù)的最新進展。儀器為桌上型，溫度范圍 -125 ... 1100°C。為了覆蓋這一溫度范圍，提供了兩種可自由切換的爐體。

系統(tǒng)所使用的全新的紅外傳感器技術(shù)使得用戶甚至可以在 -125°C 的低溫下測量樣品背部的溫升曲線。

儀器既可使用內(nèi)置的自動樣品切換器在一次升溫中對多個較小的樣品進行測量，也可單獨測量較大的樣品（最大直徑 25.4mm）。

真空密閉系統(tǒng)使得儀器可以在多種用戶可選的氣氛中進行測量。

樣品支架、爐體與檢測器的垂直式排布方便了樣品的放置與更換，同時使得檢測信號擁有最佳的信噪比。

LFA 457 是最強大與靈活的 LFA 系統(tǒng)，適用于包括汽車制造、航空航天與能源技術(shù)在內(nèi)的各種領(lǐng)域的常規(guī)材料與新型高性能材料的表征。

LFA 457 MicroFlash^® - 技術(shù)參數(shù)

LFA 457 MicroFlash^® - 軟件功能

LFA 457 MicroFlash^® 的測量與分析軟件是基于 MicroSoft Windows^® 系統(tǒng)的 Proteus^® 軟件包，它包含了所有必要的測量功能和數(shù)據(jù)分析功能。這一軟件包具有極其友善的用戶界面，包括易于理解的菜單操作和自動操作流程，并且適用于各種復雜的分析。Proteus 軟件既可安裝在儀器的控制電腦上聯(lián)機工作，也可安裝在其他電腦上脫機使用。

LFA 部分軟件功能：

• 精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分。

• 熱損耗修正。

• 集成了所有傳統(tǒng)模型。

• 使用非線性回歸進行 Cowan 擬合。

• 改進的 Cape-Lehmann 模型，使用非線性回歸，將多維熱損耗納入計算。

• 對于半透明樣品的輻射修正。

• 二層與三層結(jié)構(gòu)樣品：通過非線性回歸方式進行擬合，并將熱損耗納入計算。

• 計算多層樣品的接觸熱阻。

• 比熱測量：使用已知比熱的標樣、通過比較法進行計算。

• 內(nèi)置數(shù)據(jù)庫。

LFA 457 MicroFlash^® - 應用實例

多晶石墨

使用配有低溫系統(tǒng)的 LFA 457 對多晶石墨進行了測試，測試曲線上材料在室溫附近導熱系數(shù)達到最大，一般解釋為由于該材料的 Debye 溫度較高（> 1000 K）所致。在峰值右側(cè)的高溫區(qū)域，熱擴散系數(shù)隨溫度上升而下降得比較快，主導了該區(qū)域的導熱系數(shù)變化的趨勢。峰值左側(cè)的低溫區(qū)則比熱下降的非常快，這主導了低溫下該材料的導熱系數(shù)隨溫度變化的趨勢。

聚碳酸酯

聚碳酸酯（PC）是一種非常常見的聚合物材料，常用于電動工具包裝。為了通過有限元素模擬的方法以優(yōu)化生產(chǎn)／模制工藝，需要知道它的熱物性參數(shù)。如果使用 LFA 457 的熔融樣品容器，則不僅能測得固態(tài)下、也能測得玻璃化轉(zhuǎn)變溫度以上（> 140°C）的材料的熱擴散系數(shù)。若已知密度與比熱數(shù)據(jù)（可用 DSC 測試），則可計算得到導熱系數(shù)。此外，在比熱曲線與熱擴散曲線上還可以看到玻璃化轉(zhuǎn)變（在導熱系數(shù)曲線上則無法看到這一類似于二級相變的轉(zhuǎn)變過程）。

LFA 457 MicroFlash^® - 相關(guān)附件

LFA 457 MicroFlash® 配有恒溫水浴，以保證溫度與長時間工作的穩(wěn)定性。 提供多種類型的真空泵，可以使得測試在真空或純凈無氧的惰性氣氛下進行。 流量計，用于調(diào)節(jié)吹掃氣體的流量。 由 SiC 或石墨制成的樣品支架與樣品罩，適用于標準樣品尺寸。 提供由鉑金、鋁、藍寶石等材料制成的多種類型不同尺寸的樣品支架或樣品容器，用于測量液體樣品、熔融金屬、礦渣與纖維等特殊樣品。 提供用于熱擴散系數(shù)驗證的標準樣品。 提供用于比熱測試的參比樣品。 制樣設備。